RT RC-02BX射線分辨率測試卡

JIMA RT RC-02B分辨率測試卡,X射線分辨率測試卡詳細介紹：

JIMA（日本檢測儀器制造商協會），致力于關注各種檢測儀器，其中包括無損檢測儀器，JIMA分辨率測試卡，用于測量X射線系統的分辨率，以保證X射線系統在微米和納米焦點的圖像質量。
JIMA RT RC-02B分辨率測試卡
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
圖案布局：L型
線/空間尺寸： 16種規格圖案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
JIMA RT RC-04 X射線分辨率測試卡
JIMA RT RC-05分辨率測試卡



測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
圖案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
線/空間尺寸：16種規格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)



JIMA RT RC-05 X射線分辨率測試卡



JIMA RT RC-04分辨率測試卡
測試卡封裝在一個防護盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm
圖案布局：T型